広角X線回折法ではX線を固体試料に当てて回折されるX線を調べることによりサンプル中に含まれる結晶格子の面間隔を高精度で測定することができ、結晶構造分析(粉末試料)や金属の残留応力(歪み)測定が可能です。

X線を用いた分析の最大のメリットは貴重なサンプルを破壊せずに分析することができること(非破壊検査)です。

このためサンプル量が少ない場合や、X線分析を行った後に同じサンプルを用いて別の手法で化学分析を行うことも可能です。

プロトマニュファクチュアリングでは、X線回折装置本体や、X線管球や各種アクセサリー、解析用のソフトウェアの販売を行っています。

さらにクライアント様からの依頼分析も行っており、各種最新の分析装置を取り揃えているので粉末試料のX線回折測定はもちろん、材料の残留応力や残留オーステナイト分析も可能です。